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      干漆膜測厚儀儀器校滿度的校正方式

      發布日期: 2021-11-09
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         干漆膜測厚儀采用磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。用于對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等,在有關國家和標準中稱為覆層。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。

        干漆膜測厚儀儀器校滿度的校正:
        1、根據要測量的涂層厚度,選擇適當的標準膜片,進行滿度校準。
        2、先將標準膜片放在鐵基上(或不帶涂層的測量體上)。
        3、再將測量探頭壓在標準膜片上,測量值就顯示在顯示器上,若測量值與標準膜片不同,測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時,測量探頭一定提起,否則,按加1鍵或減1鍵無效。
        4、為保證校滿度的準確性,可通過多次測同一標準膜片來驗證。

        干漆膜測厚儀儀器使用注意:
        測量前,應清除表面上的任何附著物質,如塵土、油脂及腐蝕產物等,但不要除去任何覆蓋層物質。
        不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
        檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,無損檢測資源網如果沒有,可采用3.3中的某種方法進行校準。
        不應在試件的彎曲表面上測量。
        通常由于儀器的每次讀數并不完全相同,因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內進行多次測量,表面粗造時更應如此。
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